Popis předmětu - XP13SSD
XP13SSD | Speciální metody stanovení jakosti součástek | ||
---|---|---|---|
Role: | S | Rozsah výuky: | 2P+2L |
Katedra: | 13113 | Jazyk výuky: | CS |
Garanti: | Papež V. | Zakončení: | Z,ZK |
Přednášející: | Papež V. | Kreditů: | 4 |
Cvičící: | Papež V. | Semestr: | Z |
Webová stránka:
/education/bk/predmety/11/85/p11850504.htmlAnotace:
Kontrola základních veličin určujících jakost pasivních a aktivních součástek. Metodika měření, jejich vyhodnocení, identifikace systematických chyb. Popis měřené součástky náhradním obvodem, čtyřpólové parametry součástky. Základní vlastnosti obvodů s rozloženými parametry. Přizpůsobení součástky v měřicím obvodu. Šum elektronických obvodů, šumové parametry, šumové a výkonové přizpůsobení. Nelinearita "lineárních" obvodů, intermodulační zkreslení, měření nelinearity a intermodulací.Cíle studia:
Studenti budou seznámeni s metodikou kontroly parametrů pasivnich a aktivnich elektronických součástekObsah:
Kontrola základních veličin určujících jakost pasivních a aktivních součástek. Metodika měření, jejich vyhodnocení, identifikace systematických chyb. Popis měřené součástky náhradním obvodem, čtyřpólové parametry součástky. Základní vlastnosti obvodů s rozloženými parametry. Přizpůsobení součástky v měřicím obvodu. Šum elektronických obvodů, šumové parametry, šumové a výkonové přizpůsobení. Nelinearita "lineárních" obvodů, intermodulační zkreslení, měření nelinearity a intermodulací.Osnovy přednášek:
1. | Úvod, metodika měření, analýza chyb | |
2. | Měření napětí a přenosu | |
3. | Ekvivalentní obvody, čtyřpólové pólové parametry | |
4. | Komplexní měření impedance | |
5. | Přizpůsobení v sítích | |
6. | Distribuované obvody parametrů | |
7. | Přenosové vedení | |
8. | Šum v obvodech elektroniky, parametry šumu | |
9. | Přizpůsobení pro maximální zisk a minimální šum | |
10. | Měření šumu | |
11. | Nelinearita nominálně lineárních elektronických komponent | |
12. | Intermodulační zkreslení | |
13. | Měření nelinearity a intermodulace | |
14. | Měření elektromagnetické kompatibility |
Osnovy cvičení:
1. | Bezpečnost v laboratoři, seznámení s úlohami 1. skupiny | |
2. | Nelinearita a šum rezistorů | |
3. | Přizpůsobebí výkonového zesilovače | |
4. | VF přizpůsobovací obvody | |
5. | Měření šumového čísla | |
6. | Přizpůsobení v obvodech pro měření šumu | |
7. | Seznámení s úlohami skupiny 2 | |
8. | Měření intermodulačního zkreslení | |
9. | Měření nelinearity lineárních součástek | |
10. | Transformátory a filtry s rozloženými parametry | |
11. | Měření nelinearity lineárních součástek | |
12. | Rorptylové parametry aktivního dvojbranu | |
13. | Stabilita měřicího obvodu | |
14. | Vyhodnocení referátů, zápočet |
Literatura:
[1] | Detlefsen, J. ; Siart, U.: Grundlagen der Hochfrequenztechnik. München: Oldenbourg, 2012 | |
[2] | Zinke, Brunswig, Lehrbuch der Hochfrequenztechnik, 3. Auflage, Springer-Verlag, Berlin 1986 |
Požadavky:
Pro získání zápočtu se student účastní seminářů, odevzdá protokol z jedné laboratorní úlohy a získá minimálně 50 % z maximálního množství hodnotících bodů v testechKlíčová slova:
elektronické součástky, kvalita elektronických součástekPředmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Plán | Obor | Role | Dop. semestr |
DOKP | Před zařazením do oboru | S | – |
DOKK | Před zařazením do oboru | S | – |
Stránka vytvořena 8.10.2024 17:50:55, semestry: L/2023-4, L/2024-5, Z/2025-6, Z/2024-5, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů | Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336) |