Summary of Study |
Summary of Branches |
All Subject Groups |
All Subjects |
List of Roles |
Explanatory Notes
Instructions
| B3M38DIT |
Diagnostics and Testing |
| Roles: | P |
Extent of teaching: | 3P+2L |
| Department: | 13138 |
Language of teaching: | CS |
| Guarantors: | |
Completion: | Z,ZK |
| Lecturers: | |
Credits: | 7 |
| Tutors: | |
Semester: | L |
Web page:
https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT
Anotation:
Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.
Course outlines:
| 1. | | Diagnostika, prognostika, životní cyklus |
| 2. | | Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů |
| 3. | | Spolehlivost |
| 4. | | Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA |
| 5. | | Hodnocení diagnostických metod (POD) |
| 6. | | Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování |
| 7. | | Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů |
| 8. | | Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů |
| 9. | | Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise |
| 10. | | Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace |
| 11. | | Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie |
| 12. | | Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika |
| 13. | | In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test |
| 14. | | Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan |
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.
Exercises outline:
Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování.
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.
Literature:
Základní:
| [1] | | R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006. |
Doporučené:
| [2] | | Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012. |
| [3] | | M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005. |
(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)
Requirements:
Subject is included into these academic programs:
| Page updated 14.10.2024 17:51:34, semester: Z/2025-6, Z,L/2024-5, L/2023-4, Send comments about the content to the Administrators of the Academic Programs |
Proposal and Realization: I. Halaška (K336), J. Novák (K336) |