Přehled studia |
Přehled oborů |
Všechny skupiny předmětů |
Všechny předměty |
Seznam rolí |
Vysvětlivky
Návod
Webová stránka:
https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT
Anotace:
Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.
Osnovy přednášek:
| 1. | | Diagnostika, prognostika, životní cyklus |
| 2. | | Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů |
| 3. | | Spolehlivost |
| 4. | | Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA |
| 5. | | Hodnocení diagnostických metod (POD) |
| 6. | | Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování |
| 7. | | Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů |
| 8. | | Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů |
| 9. | | Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise |
| 10. | | Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace |
| 11. | | Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie |
| 12. | | Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika |
| 13. | | In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test |
| 14. | | Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan |
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.
Osnovy cvičení:
Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování.
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.
Literatura:
Základní:
| [1] | | R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006. |
Doporučené:
| [2] | | Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012. |
| [3] | | M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005. |
(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)
Požadavky:
Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
| Stránka vytvořena 12.10.2024 17:50:43, semestry: L/2024-5, Z/2025-6, L/2023-4, Z/2024-5, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů |
Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336) |